Productomschrijving

De Sewerin DP-IR maakt gebruik van de geavanceerde optische technologie IR-CIPS (Infrared Controlled Interference Polarization Spectometry), waarmee een detectie-gevoeligheid van 1 ppm wordt bereikt. Het handzame instrument combineert de nauwkeurigheid van een FID-meter met het gebruikersgemak van een halfgeleider-sensor. De DP-IR gebruikt geen testgas en meet methaan-specifiek.